NIT Line Scan SWIR相機(jī)New Imaging Technologies
發(fā)布時(shí)間:2022-08-30 17:04:28 瀏覽:829
New Imaging Technologies推行全新系列SWIR In GaAs相機(jī)-LiSa SWIR。LiSa SWIR具備SWIR線掃描陣列相機(jī)。這款SWIR相機(jī)專門針對(duì)需用短曝光時(shí)間和高精度線效率的應(yīng)用作出了優(yōu)化。
LiSa SWIR提供高SWIR圖像清晰度,同時(shí)在所有的質(zhì)量控制系統(tǒng)中維持尺寸、成本和集成化優(yōu)勢(shì)。依靠短波紅外光譜儀,在實(shí)時(shí)檢測(cè)情況下獲取更多看不見的數(shù)據(jù)更加輕松。
第一個(gè)可以用版本是LiSaSWIR2K–LiSa SWIR 2048M-STE.
技術(shù)參數(shù)是:
圖像分辨率:2048*1
距離:7.5μm
線速:60KHz@全線
讀取噪聲:250e-(HG)
端口:CameraLink
滿足GenIC標(biāo)準(zhǔn)
New Imaging Technologies是法國(guó)知名的SWIR傳感器和相機(jī)產(chǎn)品公司,New Imaging Technologies產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于機(jī)器視覺、儀器儀表、航空航天、醫(yī)療等領(lǐng)域。深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司,獨(dú)有渠道優(yōu)勢(shì)提供New Imaging Technologies產(chǎn)品,歡迎咨詢。
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?在過去的數(shù)年里,SWIR波段被公認(rèn)是半導(dǎo)體器件測(cè)試的最好波長(zhǎng)范圍之一。不論是晶圓或太陽能發(fā)電板上的裂痕和缺陷,或是集成電路的故障分析,InGaAs波長(zhǎng)(900m-1700nm)成像設(shè)備主要用于透視硅內(nèi)部。
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